網(wǎng)絡(luò)技術(shù)是從1990年代中期發(fā)展起來的新技術(shù),它把互聯(lián)網(wǎng)上分散的資源融為有機整體,實現(xiàn)資源的全面共享和有機協(xié)作,使人們能夠透明地使用資源的整體能力并按需獲取信息。資源包括高性能計算機、存儲資源、數(shù)據(jù)資源、信息資源、知識資源、專家資源、大型數(shù)據(jù)庫、網(wǎng)絡(luò)、傳感器等。 當(dāng)前的互聯(lián)網(wǎng)只限于信息共享,網(wǎng)絡(luò)則被認(rèn)為是互聯(lián)網(wǎng)發(fā)展的第三階段。 在綜合布線工程的施工與結(jié)束的過程中,光纖的施工質(zhì)量是很重要的,因此必須對其施工質(zhì)量進(jìn)行必要的檢測,筆者根據(jù)多年的設(shè)計與施工經(jīng)驗,歸納出一套比較實用的檢測程序,描述出來與各位同行共享。
檢查和安裝
在接上光纜和安裝了連接器之后,必須進(jìn)行光纖的連續(xù)性檢查,所有的光纜芯都必須經(jīng)過測試。因此,承擔(dān)測試的人員應(yīng)當(dāng)備有一些能夠測試出安裝質(zhì)量的測試設(shè)備。
有兩種測量必須進(jìn)行:光纖和接插件產(chǎn)生衰減的全面測試;能產(chǎn)生光纖連接線路損失曲線示意圖的反射測量。這一測量另外還會告知人們連接線路的長度、出錯點。所有測試的結(jié)果都應(yīng)儲存到驗收的電腦數(shù)據(jù)里去。
衰減測量
衰減測量,也稱第一級測量,用一個發(fā)射信號的大功率的校準(zhǔn)發(fā)生器和一個測量接收的光纖輻射測量儀進(jìn)行。這可以測量線路上的衰減并知道線路或某段線路是否在規(guī)定的公差里。這就是第一水平測量。在每次測量之前,都應(yīng)清洗所有的接插件。為了避免測量錯誤,兩架儀器(發(fā)生器和接受器)應(yīng)當(dāng)使用同樣的測量電纜(3米長)。這些電纜應(yīng)當(dāng)具有和所測光纖芯同樣的特點。
測試可以用以下兩個方法進(jìn)行:一名測試人員進(jìn)行測試,兩架儀器放在同一個地方,但能與另一處形成回環(huán);兩名測試人員,兩個地方各入一架測試儀。
所有測試程序都從校準(zhǔn)接收器開始。為此,須將發(fā)生器和接收器用一根3米長的電纜直接連接在一起。然后向接收器進(jìn)行大功率發(fā)射,再校準(zhǔn)接收器至液晶顯示上出現(xiàn)0dB。用850nm的波長進(jìn)行測試,測試中得到的衰減最大值,等于光纖衰減即這段波長的3.5dB/Km,在此之上增加各種連接所產(chǎn)生的衰減(接插件和接頭)。我們認(rèn)為連接設(shè)備的90%在不超過850nm時衰減為0.3dB。測試的結(jié)果進(jìn)入驗收報告資料。
一名測試人員進(jìn)行測試的方法
一名測試人員的測試要求在最后配線架的不同光纜通過一些長度為10米的光纖跳線構(gòu)成回環(huán)。然后一對一對檢測每對光纖的光芯。發(fā)射器和接收器放在同一地點。用一根長3米的光纖電纜把發(fā)射器連接到光纜頭或光纖屜上的第一根光纖上。用第二根3米長的光纖電纜將接收器連接到第二根光纖上。先測量一下回環(huán)情況,然后測試人員再將接收器連接到第三根光纖上進(jìn)行同樣測試,以同樣方法測試第四、第五和第六根光纖。
測試程序是:校準(zhǔn)接收器、裝上跳線電纜、測量線路并將測試結(jié)果存入電腦中。校準(zhǔn)時用一根3米長的電纜將發(fā)射器和接收器構(gòu)成回環(huán)。應(yīng)當(dāng)向接收器進(jìn)行大功率發(fā)射并校準(zhǔn)接收器至液晶顯示0dB。如果測試出的值超過了最大希望值,就應(yīng)當(dāng)借助于光纖反射儀來確定故障的地點。
兩位測試人員進(jìn)行測試的方法
這兩位測試人員應(yīng)當(dāng)擁有一些通信工具以便于及時交流:電話,對講機。
檢測是一芯一芯進(jìn)行的。一個測試人員帶有一個光信號發(fā)生器,另一位測試人員通過接收器記錄測試結(jié)果。在這種情況下,兩名測試人員分別在不同的兩端。所說的不同是測試只在單向進(jìn)行,不再兩次計算光纖跳線電纜的3米長度。測試的線路如下:
用反射測量儀測量
用反射測量儀測量,又稱第二級測量,其目的是測看光纖芯的物理狀態(tài)。損耗的分布可以在顯示屏上顯示并打印。各測量結(jié)果也同樣編入驗收報告。
測量原理如下:反射測量儀發(fā)出一個大功率的校準(zhǔn)光束,然后觀察顯示屏上是否有一個視覺看得見的反射功率信號出現(xiàn)。這一反射是構(gòu)成光纖的硅的不完全性導(dǎo)致的,與直線性衰減相一致。反射信號的其余部分等于接插部分可能的故障部分的反射。同時,這些損耗可以被定位并檢測出光纜的確切長度。
這些測試采用波長850nm。但如果人們需要為網(wǎng)絡(luò)的未來發(fā)展趨勢測出布線的等級,也可以用1300nm。測試中得到的最高衰減值等于光纖衰減值,即850nm時為3.5dB,1300nm時為2dB,在此之上加上各連接部分產(chǎn)生的衰減。我們認(rèn)為接插部分的90%在為超過850nm時衰減為0.3dB和在不超過1300nm時衰減為0.2dB。這些測試可以檢測出光纖是否處于某個不正常情況(彎曲半徑,過分拉拽或擠壓),也可檢測出是否有斷線,斷線是否因為操作不當(dāng),也能知道ST接插件是否連接得正確。
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