硬盤(pán)驗(yàn)證器是一款便攜的硬盤(pán)工具，能夠測(cè)試識(shí)別硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的壞扇區(qū)，硬盤(pán)驗(yàn)證器為您提供了一種查看是否存在壞扇區(qū)的方法，因此您可以通過(guò)覆蓋它來(lái)清除所謂的壞扇區(qū)。

功能介紹

此工具提供有關(guān)壞扇區(qū)的詳細(xì)信息，以便您可以嘗試修復(fù)它們。您的硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器是以塊為單位（扇區(qū)）寫(xiě)入數(shù)據(jù)，在每次硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器更新扇區(qū)時(shí)，它還將在更新扇區(qū)數(shù)據(jù)后立即存儲(chǔ)校驗(yàn)和。當(dāng)從硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器讀取扇區(qū)時(shí)，扇區(qū)校驗(yàn)和應(yīng)與扇區(qū)數(shù)據(jù)匹配。如果校驗(yàn)和不匹配，硬盤(pán)會(huì)在寫(xiě)入操作期間識(shí)別為出現(xiàn)問(wèn)題 – 該事件稱為壞扇區(qū)。在寫(xiě)入操作或硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器故障期間，出現(xiàn)壞扇區(qū)的原因有很多，如電源故障等。
硬盤(pán)驗(yàn)證器為您提供了一種查看是否存在壞扇區(qū)的方法，因此您可以通過(guò)覆蓋它來(lái)清除所謂的壞扇區(qū)。
如果出現(xiàn)了因?yàn)殡娫垂收蠈?dǎo)致的壞扇區(qū)，則“讀取 + 擦除損壞 + 讀取”測(cè)試將是清除壞扇區(qū)的最快方法。
如果因?yàn)轵?qū)動(dòng)器出現(xiàn)問(wèn)題導(dǎo)致的壞扇區(qū)，則應(yīng)在備份數(shù)據(jù)后選擇“寫(xiě)入 + 驗(yàn)證”測(cè)試。注意，此測(cè)試將清除磁盤(pán)上的所有數(shù)據(jù)，請(qǐng)慎重使用。
所有測(cè)試都會(huì)形成日志，您可復(fù)制后供日后使用。硬盤(pán)驗(yàn)證器提供以下四種可供選擇的測(cè)試：– 讀取：將掃描整個(gè)硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器表面以查找壞扇區(qū)。
– 讀取 + 擦除損壞 + 讀�。簩�掃描整個(gè)硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器表面以查找壞扇區(qū)，如果發(fā)現(xiàn)壞扇區(qū)，將覆蓋它們，并再次讀取以確保寫(xiě)入成功。
– 讀取 + 寫(xiě)入 + 驗(yàn)證 + 恢復(fù)：程序?qū)⑾虼疟P(pán)寫(xiě)入測(cè)試模式，驗(yàn)證模式是否已成功寫(xiě)入，然后還原原始數(shù)據(jù)。
– 寫(xiě)入 + 驗(yàn)證：程序?qū)⑾虼疟P(pán)寫(xiě)入測(cè)試模式并驗(yàn)證模式是否已成功寫(xiě)入（慎用，原始數(shù)據(jù)將會(huì)丟失）。